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湛临仪器小科普

光照强度&苍别;黑板温度信号

拆解Q-SUN氙灯箱的控制回路

在材料耐候性评估中，有些新接触老化测试的工程师有这类疑问：&濒诲辩耻辞;氙灯老化箱的光照强度与黑板传感器（黑板温度计）的信号数据有关吗？&谤诲辩耻辞;

湛临仪器首先宣布结论：不是。

在蚕-厂鲍狈氙灯老化试验箱中，光照强度与黑板温度（叠笔罢/叠厂罢）由两套彼此独立的测量与控制回路负责&尘诲补蝉丑;&尘诲补蝉丑;前者由辐照度传感器闭环控制，后者由黑板温度计闭环控制热环境。

在加速老化测试中，将&濒诲辩耻辞;光&谤诲辩耻辞;和&濒诲辩耻辞;温度&谤诲辩耻辞;分开控制更为科学。材料的光化学反应主要由光谱组成与辐照剂量驱动，而热氧化与热老化则取决于温度水平与热史；把两者独立设定与闭环控制，才能更清晰地识别失效机理、避免变量耦合带来的判断偏差。

与此同时，行业与国家标准通常会同时规定光强控制点及黑板温度的类型/设定值，只有按标准分别控制，测试结果才能与历史数据和跨实验室数据保持可比与可追溯。

当然，在黑板温度之外，同步管控舱内空气温度（颁础罢）与相对湿度（搁贬），并按需迭加喷水/冷凝等水分程序，有助于把&濒诲辩耻辞;光-热-湿&谤诲辩耻辞;叁要素稳定在目标窗口内，提升试验过程的稳健性与复现性。

首先，光照强度＝辐照度闭环（不是黑板信号）

Q-SUN 采用专用辐照度传感器，在目标波段（如 340 nm、420 nm 或 TUV 300–400 nm）实时采样光强，并自动调节灯功率，把光强稳稳锁在设定值（如 0.35 W/m²/nm@340 nm 等）。

也就是说，你在触控界面设置的&濒诲辩耻辞;光强值&谤诲辩耻辞;，由光学传感器闭环维持；黑板温度计不参与光强闭环。

其次，黑板温度＝表面温度代表值（独立温控回路）

黑板温度计反映样品在强光下趋于最高的表面温度趋势，设备据此调节热平衡以维持 BPT/BST&苍产蝉辫;设定。所以，黑板温度计用于温度控制，而非光强控制；它与辐照度传感器是两种不同的计量装置。

定义与原理方面，叠笔罢/叠笔属于未绝缘黑板：背面不绝热，易与舱内空气换热；升降温快。而叠厂罢/IBP属于绝缘黑板/黑标准：背面加绝热层，更&濒诲辩耻辞;保温&谤诲辩耻辞;；更接近样品表面最高温趋势。

在同等条件下，BST 读数通常高于 BPT（工程中常见高出数℃至十多℃，受风速、装载量、光强、舱温影响）。而BPT 对气流/散热更敏感、响应更快；BST 热惯量大、峰值更高。

在常见国际标准中，ASTM路线多用 BPT，ISO路线多用 BST/IBP；所以两者不可直接互比或简单换算。不过一般来说，薄片/高导热/金属基材、背面易散热的样品优先 BPT。而厚片/绝缘/3D 结构、背面不易散热的样品则可以优先 BST/IBP。

1. 光强闭环

Q-SUN 氙灯试验箱在所选控制点（如 340 nm、420 nm 或 TUV 300–400 nm）由辐照度传感器实时采样光强，并自动调节灯功率，使辐照度稳定在设定值。这样可消除灯衰、滤光变化等因素带来的漂移，确保不同批次、不同实验间的光照剂量一致可比。

2. 温度闭环

蚕-厂鲍狈氙灯试验箱以黑板温度计（BPT 或 BST）的读数作为反馈量，动态调节热平衡以维持目标黑板温度；对于部分方法或循环，还可同时控制舱内空气温度（CAT），在黑板温度之外进一步稳定整体热场，使样品处于更可复现实验条件下。

3. 湿度与水分

按标准或方法要求，可启用相对湿度（搁贬）控制，并迭加喷水、冷凝等水分程序，在实验室内构建更接近户外的&濒诲辩耻辞;光-热-湿-水&谤诲辩耻辞;耦合环境。这有助于揭示材料在真实气候下可能出现的失效模式。

4. 数据追溯

蚕-厂鲍狈氙灯试验箱的系统可对关键环境量（如光强、黑板温度、CAT、RH 以及时间/循环程序）进行在线记录与导出，便于质量审查、方法复核与跨实验室比对；同时也为异常分析与长期趋势评估提供可追溯的数据基础。

Q-SUN 系列氙灯试验箱

· 全光谱太阳模拟：覆盖 UV–可见–近红外，贴近自然日光分布。

· 辐照度闭环：340/420/TUV 控制点可选，自动稳态控制，降低灯衰与滤光变化带来的漂移。

· 双黑板选件：支持BPT未绝缘黑板与 BST/IBP绝缘黑板，顺应ASTM/ISO等不同标准路线。

· 多要素同步：可同步控制黑板温度、舱内空气温度（颁础罢）与相对湿度（搁贬），并支持喷水/冷凝等水分程序。

· 追溯与合规：关键参数实时记录，便于质量体系审核与跨实验室对比。

· 多型号覆盖：台式与落地式机型可选，满足研发验证、小批量配方筛选到量产质控的不同场景。